TOP  製品紹介  き裂成長モニタ  CGM−7 / DCM−2  ★カタログのお申し込みは、こちらからどうぞ。
■電磁流量計
Metal Multi−Mag
<メタルマルチマグ>
Single-Mag
<シングルマグ>

■非接触型面速式流量計
Flo−Dar <フローダール>
■ポータブル電磁流速計
FH950
■超音波流量計
Compu-Flow (ドップラ式)
<コンプ・フロー>
■面速式流量計
Sigma 950
■電磁流速計
Model 2000
■き裂成長モニタ
CGM−7 / DCM−2
■高温水質計測システム
Trend Chem
<トレンドケム>
■接触電気抵抗モニタ
CER
■バルブ・調節機器
Plast-O-Matic社製品
(c)Nippon Hicon Co.,Ltd.
■き裂成長モニタ
概 要(CGM-7) 概 要(DCM-2)
 仕 様(CGM-7) 仕 様(DCM-2)
 
 き裂成長モニタ  (電位差法)
 
 CGM-7 DCM-2 



【特徴】
電位差法とは
金属の「き裂」成長過程を電気抵抗値の変化を利用してモニタリングする測定器です。

交流(ACPD)および直流(DCPD)の2方式があります。
超音波やX線を利用した測定器に比べ、設置しやすく操作も簡単です。
測定チャンネルは2系統あり、き裂測定と同時にリファレンス測定が可能です。
スキャンユニットを追加すれば複数試験片の同時測定にも対応出来ます。
オプションの専用ソフトでパソコンと連携してデータの確認や保存が可能です。

【用途例】
原子力、火力、化学プラントをはじめ航空機、橋梁等の構造材のき裂の成長をモニター
◆安定き裂成長過程の研究
◆き裂の寸法評価
◆動的き裂発生と成長の研究
◆試験片への予き裂導入時のモニタリング
◆疲労による割れ成長に関する研究
◆応力腐蝕割れの研究
◆材料劣化の研究
◆き裂発生時のモニタリング
(c)Nippon Hicon Co.,Ltd.









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